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GB_Z 37664.3-2025 纳米制造关键控制特性发光纳米材料第3部分_ 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命.pdf

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GB/Z 37664.3-2025 纳米制造关键控制特性发光纳米材料第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命:

纳米制造关键控制特性发光纳米材料第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命（GB/Z 37664.3-2025），英文名为Nanomanufacturing—Key control characteristics—Luminescent nanomaterials—Part 3：Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC)。
纳米制造关键控制特性发光纳米材料第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命（GB/Z 37664.3-2025）是在2025-12-03发布，在2025-12-03开始实施。
该标准采用了标准MOD,IEC TS 62607-3-3:2020。
本文件描述了使用时间相关单光子计数法（TCSPC）对半导体量子点（QDs）荧光寿命进行测量的方法，包括实验步骤、数据处理和测量示例.TCSPC 适用于测量从皮秒到纳秒范围的荧光寿命。本文件适用于QDs 的稳定分散液，不适用于固体样品。
本标准文件共有18页。

标准封面截图：
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