GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法:本标准为GB/T 5594.4-2015，标准的中文名称为电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法，标准的英文名称为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic component and device. Part 4:Test method permittivity and dielectric loss angle tangent value，本标准在2015-05-15发布，在2016-01-01开始实施。
GB/T 5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz,温度从室温至500℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
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GB_T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分_介电常数和介质损耗角正切值的测试方法.pdf