GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检:本标准为GB/T 4937.3-2012，标准的中文名称为半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检，标准的英文名称为Semiconductor devices. Mechanical and climatic tests methods. Part 3:External visual examination，本标准在2012-11-05发布，在2013-02-15开始实施。
该标准采用了标准IEC 60749-3-2002,IDT。
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。
本标准文件共有6页。
GB_T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分_外部目检.pdf