GB/T 28634-2012 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析:本标准为GB/T 28634-2012，标准的中文名称为微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析，标准的英文名称为Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy，本标准在2012-07-31发布，在2013-02-01开始实施。
该标准采用了标准ISO 22489-2006,IDT。
本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括:定量分析原理;本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;仪器的一般要求;有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。
本标准文件共有16页。
GB_T 28634-2012 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析.pdf