本标准为GB/T 1555-2009，标准的中文名称为半导体单晶晶向测定方法，标准的英文名称为Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal，本标准在2009-10-30发布，在2010-06-01开始实施。
本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向
本标准文件共有8页。 GB_T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法.pdf(302.55 KB)
