半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾（GB/T 4937.13-2018），该标准的归口单位为全国半导体器件标准化技术委员会，英文名为Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 13:Salt atmosphere。
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾（GB/T 4937.13-2018）是在2018-09-17发布，在2019-01-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60749-13-2002,IDT。
GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验.适用于工作在海上和沿海地区的器件。本试验是破坏性试验。本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
本标准文件共有6页。
GB_T 4937.13-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾.pdf
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