电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法（GB/T 36655-2018），该标准的归口单位为全国半导体设备和材料标准化技术委员会，英文名为Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging. XRD method。
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法（GB/T 36655-2018）是在2018-09-17发布，在2019-01-01开始实施。
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析,0.5%~5%定量分析。
本标准文件共有8页。
GB_T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法.pdf
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