高温超导薄膜微波表面电阻测试（GB/T 22586-2008），该标准的归口单位为全国超导标准化技术委员会，英文名为Measurements of surface resistance of high temperature superconductor thin film at microwave frequencies。
高温超导薄膜微波表面电阻测试（GB/T 22586-2008）是在2008-12-15发布，在2009-05-01开始实施。
它在2018-10-01作废。被标准GB/T 22586-2018替代。
该标准采用了标准IEC 61788-7-2006,IDT。
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。
本标准适用于表面电阻的测试范围如下:
—频率: 8GHz<f<30GHz
—测试分辨率: 0.01mΩ(f=10GHz)
测试报告给出在测试频率下的表面电阻值,并且给出利用Rs∝f2 的关系折合到10GHz的值。
本标准文件共有24页。
GB_T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试.pdf
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