本标准为GB/T 21636-2008，标准的中文名称为微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语，标准的英文名称为Microbeam analysis. Electron Probe Micro Analysis (EPMA). Vocabulary，本标准在2008-04-11发布，在2008-10-01开始实施。
该标准采用了标准ISO 23833-2006,IDT。
本标准定义了电子探针显微分析（EPmA）实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。本标准适用于所有有关电子探针分析（EPmA）实践的标准化文件,部分使用于相关领域[例如：扫描电子显微镜(SEm),分析电子显微镜(AEm),X射线能谱仪等]的标准化文件,用于定义共用的术语。
本标准文件共有39页。
GB_T 21636-2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语.pdf
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