YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

qq931562192 · 发表于 2021-4-11 12:13

工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法（YS/T 666-2008），该标准的归口单位为全国有色金属标准化技术委员会，英文名为Chemical analysis methods of gallium for industrial use. Determination of impurity elements. Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method。
工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法（YS/T 666-2008）是在2008-03-12发布，在2008-09-01开始实施。
本标准规定了工业稼中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
本标准适用于工业稼[99.9%≤ω(%)≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
本标准文件共有7页。

YS_T 666-2008 工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法.pdf (180.04 KB)

eeeeeee · 发表于 2022-1-1 15:47

支持下啊

nysky · 发表于 2022-1-18 17:02

好资源，正好需要

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YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

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