本标准为GB/T 4589.1-2006，标准的中文名称为半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范，标准的英文名称为Semiconductor devices. Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits，本标准在2006-10-10发布，在2007-02-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60747-10-1991,IDT。
本规范构成国际电工委员会电子7ri器件质量评定体系（IECQ）的一部分．本规范是半导体器件（分立器件和集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序,并给出了下述方面的总原则：电特性侧试方法；气候和机械试验；耐久性试验。
本标准文件共有35页。
GB_T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分_分立器件和集成电路总规范.pdf
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