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GB/T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验

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1liyang 发表于 2021-4-12 00:59 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为GB/T 2423.27-2005,标准的中文名称为电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验,标准的英文名称为Environmental testing for electric and electronic products. Part 2:Tests methods. Test Z/AMD:Combined sequential cold,low air pressure and damp heat test,本标准在2005-08-26发布,在2006-04-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60068-2-39-1976,IDT。
本部分提供了由低温、低气压和湿热组成的标准环境试验程序。首先低温和低气压结合在一起,其次升温,然后与湿热条件结合在一起。本试验应用了试验A和试验M。虽然未完全按照试验D引入湿度,但用“Z/AMD”来表示本试验最恰当和最具提示性。本试验用于飞行器所使用的器件和设备,特别是在非加热和非增压部位的器件和设备。
本标准文件共有6页。
GB_T 2423.27-2005 电工电子产品环境试验 第2部分_试验方法 试验Z_AMD_低温_低气压_湿热连续综合试验.pdf (278.83 KB)
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