本标准为GB/T 15651.3-2003，标准的中文名称为半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法，标准的英文名称为Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3:Optoelectronic devices Measuring methods，本标准在2003-11-24发布，在2004-08-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60747-5-3-1997,IDT。
本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。
本标准文件共有27页。
GB_T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分_光电子器件 测试方法.pdf
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