产品几何量技术规范(GPS)表面缺陷 术语、定义及参数（GB/T 15757-2002），该标准的归口单位为全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会，英文名为Geometrical product specifications(GPS). Surface imperfections. Terms.definitions and parameters。
产品几何量技术规范(GPS)表面缺陷 术语、定义及参数（GB/T 15757-2002）是在2002-07-15发布，在2003-01-01开始实施。
该标准采用了标准ISO 8785-1998,MOD。
本标准确定了有关表面缺陷的术语,允许表面缺陷的程度及测量表面缺陷方法的技术规范等内容。本标准适用于技术文件、技术图纸和科技出版物等。
本标准文件共有17页。
GB_T 15757-2002 产品几何量技术规范(GPS)表面缺陷 术语、定义及参数.pdf
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