GB/T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法

wer222303 · 发表于 2021-4-11 12:01

半导体集成电路模拟开关测试方法（GB/T 14028-2018），该标准的归口单位为全国半导体器件标准化技术委员会，英文名为Semiconductor Integrated Circuits. Measuring Method Of Analogue Switches。
半导体集成电路模拟开关测试方法（GB/T 14028-2018）是在2018-03-15发布，在2018-08-01开始实施。
本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。
本标准文件共有26页。

GB_T 14028-2018 半导体集成电路模拟开关测试方法.pdf (1.36 MB)

aqzswxdec · 发表于 2022-4-29 19:40

谢谢分享！！！！

qq765826387 · 发表于 2023-7-27 08:44

不错不错

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GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

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