非易失性存储器耐久和数据保持试验方法（GB/T 35003-2018），该标准的归口单位为全国半导体器件标准化技术委员会，英文名为Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory。
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法（GB/T 35003-2018）是在2018-03-15发布，在2018-08-01开始实施。
本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。
本标准文件共有8页。 GB_T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法.pdf(449.15 KB)
