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SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

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zetian 发表于 2021-4-12 10:55 | 显示全部楼层 |阅读模式
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理(SJ/T 10805-2000),该标准的归口单位为中国电子技术标准化研究所,英文名为Semiconductor interface integrated circuits General principles of measuring methods for voltage comparators。
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理(SJ/T 10805-2000)是在2000-12-28发布,在2001-03-01开始实施。
它在2018-04-01作废。被标准SJ/T 10805-2018替代。
本规范规定了半导体集成电路电压比较器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。
本标准文件共有31页。
SJ_T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理.pdf (4.49 MB)
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ddddfff 发表于 2022-3-21 07:46 | 显示全部楼层
很给力~
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buleangel 发表于 2022-7-18 11:00 | 显示全部楼层
支持一下
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