本标准为GB/T 4377-1996，标准的中文名称为半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理，标准的英文名称为Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage regulator，本标准在1996-07-09发布，在1997-01-01开始实施。
本标准作废日期为2018-08-01。被标准GB/T 4377-2018替代。
本标准规定了半导体集成电路电压调整器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试,不适用于双端(单端口)器件。
本标准文件共有20页。
GB_T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理.pdf
(513.6 KB)
|
|
