半导体器件机械和气候试验方法（GB/T 4937-1995），该标准的归口单位为全国半导体器件标准化技术委员会，英文名为Mechanical and climatic test methods for semicondutror devices。
半导体器件机械和气候试验方法（GB/T 4937-1995）是在1995-12-22发布，在1996-08-01开始实施。
被标准GB/T 4937.1-2006部分;GB/T 4937.2-2006部分替代。
本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件,可以要求补充的试验方法。
本标准文件共有35页。
GB_T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法.pdf
(1.97 MB)
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