本标准为JB/T 7786-1995，标准的中文名称为电力半导体器件检验抽样方法，本标准在1995-10-09发布，在1996-01-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 410,NEQ;IEC 747-10,NEQ;JIS C7210,NEQ。
本标准规定了计数型一次抽样方案、追加抽样方案及抽样程序。本标准适用于电力半导体器件(包括模块、组件和附件)的出厂(或逐批)检验、型式(或周期)试验和交收检验。
本标准文件共有9页。
JB_T 7786-1995 电力半导体器件检验抽样方法.pdf
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