《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》（GB/T 37051-2018），该标准的归口单位为全国半导体设备和材料标准化技术委员会，英文名为Test method for determination of crystal defect density in PV silicon ingot and wafer。
《太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法》（GB/T 37051-2018）是在2018-12-28发布，在2019-04-01开始实施。
本标准文件共有9页。 GB_T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法.pdf(1.96 MB)
