电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法（GB/T 5594.6-1985），该标准的归口单位为无，英文名为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for chemical durability。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法（GB/T 5594.6-1985）是在1985-11-27发布，在1986-12-01开始实施。
它在2016-01-01作废。被标准GB/T 5594.6-2015替代。
本标准适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。本标准不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性。
本标准文件共有2页。 GB_T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法.pdf(99.3 KB)
