本标准为GB/T 5594.4-1985，标准的中文名称为电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法，标准的英文名称为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for dielectric loss angle tangent value，本标准在1985-11-27发布，在1986-12-01开始实施。
本标准作废日期为2016-01-01。被标准GB/T 5594.4-2015替代。
本标准适用于测定电了元器件结构陶瓷材料在频率1MHz,温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。
本标准文件共有4页。
GB_T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法.pdf
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