电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法（GB/T 5594.3-1985），该标准的归口单位为无，英文名为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for mean coefficient of linear expansion。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法（GB/T 5594.3-1985）是在1985-11-27发布，在1986-12-01开始实施。
它在2016-01-01作废。被标准GB/T 5594.3-2015替代。
本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。
本标准文件共有2页。 GB_T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法.pdf(88.35 KB)
