本标准为GB/T 5594.2-1985，标准的中文名称为电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法，标准的英文名称为Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for Young's elastic modulus and Poisson ratio，本标准在1985-11-27发布，在1986-12-01开始实施。
本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量的泊松比的测量。
本标准文件共有3页。 GB_T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法.pdf(132.29 KB)
