中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分:（JR/T 0045.3-2008），该标准的归口单位为全国金融标准化技术委员会，英文名为China financial integrated circuit card test specifications. Part 3:Debit/credit card personalization test guide。
中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分:（JR/T 0045.3-2008）是在2008-04-30发布，在2008-04-30开始实施。
它在2014-07-30作废。被标准JR/T 0045.3-2014替代。
本部分参照《中国金融集成电路(IC)卡规范 第十部分:借记/贷记应用个人化指南》,适用于符合《中国金融集成电路(IC)卡规范》的借记/贷记应用IC卡。JR/T 0045-2008的本部分从卡片检测的角度描述了对借记/贷记卡片个人化要求,个人化包括卡片内部文件的创建、数据生成和密钥安全等。本部分适用于由银行发行或受理的金融借记/贷记应用的IC卡。其使用对象主要是与金融借记/贷记IC卡应用相关的卡片、检测、发行、受理,以及应用系统的研制、开发、集成和维护等部门(单位)。
本标准文件共有34页。
JR_T 0045.3-2008 中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分_.pdf
(1.18 MB)
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