本标准为SJ 50192/1-2002，标准的中文名称为CCK4101型有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器详细规范，标准的英文名称为Capacitors, chip, multilayer, ceramic dielectric, unencapsulated, estabilished reliability, detail specification for CCK4101 type，本标准在2002-01-31发布，在2002-05-01开始实施。
本详细规范规定了CCK4101型有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器的结构、外形尺寸、额定值,以及对GJB 192A-98《有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器总规范》的补充和特殊规定。本规范适用于低损耗、电容量稳定并有规定温度系数的谐振回路和需要补偿温度效应的电路中使用的多层片式瓷介电容器。
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SJ 50192_1-2002 CCK4101型有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器详细规范.pdf
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