电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法（SJ/T 1147-1993），该标准的归口单位为电子工业部标准化研究所，英文名为Test methods for dielectric loss angle tangent and dielectric canstant of organic film for use in capacitors。
电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法（SJ/T 1147-1993）是在1993-12-17发布，在1994-06-01开始实施。
它在2017-05-12作废。本标准适用于厚度为2～50μm的电容器用有机薄膜在正常气候条件下或高温下,频率为50Hz,1kHz或1MHz时的介质损耗角正切值和介电常数的测定。
本标准文件共有3页。
SJ_T 1147-1993 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法.pdf
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