SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法

1363157291 · 发表于 2021-12-7 14:21

电子设备密封结构试验方法（SJ/T 10167-1991），该标准的归口单位为机械电子工业部电子标准化研究所，英文名为Test methods of densification structure for electronic equipments。
电子设备密封结构试验方法（SJ/T 10167-1991）是在1991-04-02发布，在1991-07-01开始实施。
本标准规定了电子设备密封结构壳体的密封试验方法。本标准适用于密封壳体的水密封、尘密封、气密封试验。
本标准文件共有15页。

SJ_T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法.pdf (2.67 MB)

wah000 · 发表于 2022-1-6 07:59

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000000000000 · 发表于 2022-2-18 08:46

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SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法

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