本标准为SJ 3234-1989，标准的中文名称为电子材料真空放气性能的动态测试方法，标准的英文名称为Test method for dynamic relating to vacuum gas emission properties of electronic material，本标准在1989-02-20发布，在1989-03-25开始实施。
本标准适用于电子材料在真空环境中热脱附的放气量、放气速率及就气成份的动态分析。
本标准文件共有6页。 SJ 3234-1989 电子材料真空放气性能的动态测试方法.pdf(976.84 KB)
