SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法正向串联电阻的测试方法

cao1457396861 · 发表于 2021-12-7 13:02

本标准为SJ 2658.5-1986，标准的中文名称为半导体红外发光二极管测试方法正向串联电阻的测试方法，本标准在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
本标准作废日期为2016-04-01。被标准SJ/T 2658.5-2015替代。
本标准适用于红外发光二极管正向串联电阻的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法正向串联电阻的测试方法.pdf (20.87 KB)

bg123 · 发表于 2021-12-25 04:58

不错不错

heroabomb · 发表于 2022-1-18 20:07

好资源，正好需要

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SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法

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