SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法电容的测试方法

qq961202635 · 发表于 2021-12-6 11:56

半导体红外发光二极管测试方法电容的测试方法（SJ 2658.4-1986），该标准的归口单位为无，半导体红外发光二极管测试方法电容的测试方法（SJ 2658.4-1986）是在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
它在2016-04-01作废。被标准SJ/T 2658.4-2015替代。
本标准适用于红外发光二极管电容的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法电容的测试方法.pdf (18.38 KB)

忘掉种过的花 · 发表于 2023-9-1 09:58

谢谢分享！！！！

ジ哊点吥乖ズ · 发表于 2023-9-19 19:02

这个不错

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SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法

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