SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法辐射强度空间分布和半强度角的测试方法

美丽说HIGO · 发表于 2021-12-5 01:13

本标准为SJ 2658.9-1986，标准的中文名称为半导体红外发光二极管测试方法辐射强度空间分布和半强度角的测试方法，本标准在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
本标准作废日期为2016-04-01。被标准SJ/T 2658.9-2015替代。
本标准适用于半导体红外发光二极管辐射强度空间分布和半强度角的测试。
本标准文件共有2页。

SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法辐射强度空间分布和半强度角的测试方法.pdf (50.17 KB)

失语者的记忆 · 发表于 2022-2-28 15:19

强强强强

hello1222 · 发表于 2022-3-2 18:59

这个不错

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法

相关帖子

SJ 2658.9-1986 半导体红外发光二极管测试方法辐射强度空间分布和半强度角的测试方法