SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法脉冲响应特性的测试方法

李蕴帆 · 发表于 2021-12-3 15:53

半导体红外发光二极管测试方法脉冲响应特性的测试方法（SJ 2658.11-1986），该标准的归口单位为无，半导体红外发光二极管测试方法脉冲响应特性的测试方法（SJ 2658.11-1986）是在1986-01-21发布，在1986-10-01开始实施。
它在2016-04-01作废。被标准SJ/T 2658.11-2015替代。
本标准适用于半导体红外发光二极管脉冲响应特性的测试。
本标准文件共有2页。

SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法脉冲响应特性的测试方法.pdf (61.64 KB)

gfhfdg · 发表于 2022-10-25 20:04

这个好啊，谢谢了。

linzicheng · 发表于 2023-5-10 23:13

这个不错

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SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法

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