SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法

chenmemeda · 发表于 2021-12-8 15:32

本标准为SJ 2215.6-1982，标准的中文名称为半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准适用于光耦合器结电容C(j)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法.pdf (127.5 KB)

小嘀咕丶浩浩 · 发表于 2022-1-26 10:46

看看先

我111 · 发表于 2022-3-4 22:44

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SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法

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