SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法

sylvia81349 · 发表于 2021-12-4 12:14

半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法（SJ 2215.8-1982），该标准的归口单位为无，半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法（SJ 2215.8-1982）是在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准适用于光耦合器输出饱和压降民V(CE)(sai)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法.pdf (152.13 KB)

xxwiuibvxe · 发表于 2022-3-13 09:52

不错不错

263829 · 发表于 2022-3-14 00:43

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SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法

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