SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法

fgdgsdg · 发表于 2021-12-2 06:02

本标准为SJ 2214.2-1982，标准的中文名称为半导体光敏二极管正向压降的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2214-2015替代。
本标准适用于光敏二极管正向电压降V(F)的测试。
本标准文件共有1页。

SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法.pdf (133.39 KB)

137- · 发表于 2022-1-17 07:59

这个好啊，谢谢了。

阿达瓦 · 发表于 2022-1-22 03:23

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SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法

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