SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则

老爷子 · 发表于 2021-12-7 01:33

半导体光耦合器测试方法总则（SJ 2215.1-1982），该标准的归口单位为无，半导体光耦合器测试方法总则（SJ 2215.1-1982）是在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
它在2015-10-01作废。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准适用于测试半导体光耦合器电参数。
本标准文件共有2页。

SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则.pdf (277.28 KB)

1455862537 · 发表于 2021-12-30 04:58

看一下

1016427872 · 发表于 2022-1-26 12:53

不错不错

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SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则

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