SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法

yang2004 · 发表于 2021-12-8 09:52

本标准为SJ 2215.11-1982，标准的中文名称为半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法，本标准在1982-11-30发布，在1983-07-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准SJ/T 2215-2015替代。
本标准适用于光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测量。
本标准文件共有2页。

SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法.pdf (270.68 KB)

小宇阿 · 发表于 2022-12-19 10:49

很给力~

peng1481392759 · 发表于 2024-4-8 15:21

看看怎样

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法

相关帖子