本标准为JB/T 8268-1999，标准的中文名称为静电复印感光体表面缺陷 测量方法，标准的英文名称为Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process，在2000-01-01开始实施。
本标准作废日期为2015-10-01。被标准JB/T 8268-2015替代。
本标准规定了静电复印感光体表面缺陷的测量方法,测量步骤、检验规则及试验报告的要求。本标准适用于静电复印感光体(硒鼓、硫化辐鼓、有机光导体鼓、无定形硅鼓,氧化锌版等〕的外观质量及背景印迹检查,对静电复印机用反射镜的表面缺陷检查亦应参照使用。
本标准文件共有5页。
JB_T 8268-1999 静电复印感光体表面缺陷 测量方法.pdf
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