GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰

lantian · 发表于 2021-12-9 17:38

电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰（GB/T 5095.2509-2020），英文名为Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-9: Signal integrity tests－Test 25i: Alien crosstalk。
电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰（GB/T 5095.2509-2020）是在2020-04-28发布，在2020-11-01开始实施。
该标准采用了标准IEC 60512-25-9-2008。
GB/T 5095的本部分规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近端外来串扰(ANEXT)和远端外来串扰(AFEXT)。组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方法进行试验。本方法提供了试验任何两端口之间外来(外源的)串扰的方式，以及评定来自所有其他端口的全部外来串扰。本试验规程广泛地适用于机电元件中所有电连接器，尤其适用于IEC 60603-7系列和IEC 61076-3-104中所叙述的连接器，以及用于数据传输的其他类型连接器。
本标准文件共有17页。

GB_T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰.pdf (7.34 MB)

鸡巴兽 · 发表于 2022-3-20 22:18

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pzw980798526 · 发表于 2022-7-6 08:57

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GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰

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