非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法（GB/T 4326-1984），该标准的归口单位为中国有色金属工业协会，英文名为Extrinsic semiconductor single crystals--measurement of Hall mobility and Hall coefficient。
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法（GB/T 4326-1984）是在1984-04-12发布，在1985-03-01开始实施。
它在2006-12-31作废。被标准GB/T 4326-2006替代。
本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流户霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阳率和霍尔系数，因此本标准也分别适用于这些参数的测最。
本标准文件共有11页。 GB_T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法.pdf(623.77 KB)
