电子元器件失效率试验方法（GB/T 1772-1979），该标准的归口单位为工业和信息化部（电子），英文名为Determination of failure rate of electronic elements and components。
电子元器件失效率试验方法（GB/T 1772-1979）是在1979-09-25发布，在1980-03-01开始实施。
它在2004-10-14作废。本标准文件共有9页。 GB_T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法.pdf(461.34 KB)
