JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范

2529258827 · 发表于 2021-4-11 21:26

光栅式测微仪校准规范（JJF 1682-2017），该标准的归口单位为全国几何量工程参量计量技术委员会，英文名为Calibration Specification for Grating Micrometers。
光栅式测微仪校准规范（JJF 1682-2017）是在2017-11-20发布，在2018-05-20开始实施。
本规范适用于0.1μm级行程为0～10mm、0.2μm级行程为0～25mm、0. 5μm级行程为0～50mm、1μm级～10μm级行程为0～100mm的光栅式测微仪校准。
本标准文件共有25页。

JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范.pdf (2.05 MB)

wweraw · 发表于 2022-2-7 08:34

看看先

sundea · 发表于 2022-3-4 06:46

看看。。。

		自动登录	找回密码
密码			QQ一键登录

JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范

相关帖子