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GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

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胡乔 发表于 2021-12-10 03:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(GB/T 14620-1993),该标准的归口单位为工业和信息化部(电子),英文名为Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits。
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(GB/T 14620-1993)是在1993-09-03发布,在1993-12-01开始实施。
它在2014-04-15作废。被标准GB/T 14620-2013替代。
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。  本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。
本标准文件共有5页。
GB_T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片.pdf (439.02 KB)
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xcf586 发表于 2022-2-20 21:15 | 显示全部楼层
支持下啊
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12312312317 发表于 2022-7-4 04:39 | 显示全部楼层
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