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JJF (电子)0014-2018 功率半导体器件老化系统校准规范

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零晨 发表于 2021-12-10 04:16 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准为JJF (电子)0014-2018,标准的中文名称为功率半导体器件老化系统校准规范,标准的英文名称为Calibration Specification for Power Semiconductor Deviees Aging Systems,本标准在2018-04-30发布,在2018-07-01开始实施。
本规范适用于直流电压≤4500V,直流电流≤200A的功率半导体器件老化系统(以下简称老化系统)的校准,功率半导体器件老化系统覆盖环境应力、直流功率应力等,常见设备包括:高温反偏老化系统、高低温老化测试系统、大功率(含微波)晶体管老化系统、高温高湿反偏老化系统、大功率晶体管老化系统、电容器高温老化系统等各种常见半导体器件/元件老化系统,其他元器件老化系统可参考进行校准。
本标准文件共有32页。
JJF (电子)0014-2018 功率半导体器件老化系统校准规范.pdf (6.55 MB)
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q1472333211 发表于 2021-12-21 11:22 | 显示全部楼层
支持一下
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个日 发表于 2022-3-27 05:07 | 显示全部楼层
这个不错
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