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GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)

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1014436993 发表于 2021-12-10 04:33 | 显示全部楼层 |阅读模式
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)(GB/T 5095.2502-2021),电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)(GB/T 5095.2502-2021)是在2021-03-09发布,在2021-10-01开始实施。
本标准文件共有14页。
GB_T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗).pdf (750.34 KB)
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isk 发表于 2021-12-17 06:59 | 显示全部楼层
很给力~
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........ 发表于 2022-3-15 18:14 | 显示全部楼层
这个不错
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