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GB/T 34504-2017 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法

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晓殇、 发表于 2021-4-11 05:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法(GB/T 34504-2017),该标准的归口单位为全国半导体设备和材料标准化技术委员会;全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会,英文名为Measurement method for surface metal contamination on sapphire  polished substrate wafer。
蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法(GB/T 34504-2017)是在2017-10-14发布,在2018-05-01开始实施。
本标准规定了蓝宝石抛光衬底片表面深度为5nm以内的残留金属元素的全反射X光荧光光谱测试方法。本标准适用于蓝宝石抛光衬底片表面残留的、在元素周期表中11(Na)~92(U)号(除去铝和氧),且面密度在10^9 atoms/cm^2~10^15atoms/cm^2范围内元素的定量测量。其他用途蓝宝石抛光片表面残留金属元素的测量可参照本标准执行。
本标准文件共有13页。
GB_T 34504-2017 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法.pdf (1006.44 KB)
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扩珞 发表于 2022-6-16 05:10 | 显示全部楼层
好资源,正好需要
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龙泉牛 发表于 2022-6-16 06:12 | 显示全部楼层
谢谢分享!!!
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.33 发表于 2022-6-25 18:16 | 显示全部楼层
感谢分享
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