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DB32/T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜方块电阻的无损测试四探针法

cnew 发表于 2022-11-7 18:24 | 显示全部楼层 |阅读模式

本标准为DB32/T 4378-2022，标准的中文名称为衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜方块电阻的无损测试四探针法，适用地区为江苏省，所属行业为无，本标准在2022-10-23发布，在2022-11-23开始实施。
本标准文件共有8页。

DB32_T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜方块电阻的无损测试四探针法.pdf (1.87 MB)

亚微米, 方块, 电阻

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篾予 发表于 2022-11-7 22:02 | 显示全部楼层

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张鹏辉 发表于 2022-11-8 15:44 | 显示全部楼层

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