GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法

ipwill · 发表于 2024-5-7 14:14

本标准为GB/T 41765-2022，标准的中文名称为碳化硅单晶位错密度的测试方法，标准的英文名称为Test method for dislocation density of monocrystalline silicon carbide，本标准在2022-10-14发布，在2023-05-01开始实施。
本标准文件共有12页。

GB_T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法.pdf (1.37 MB)

lantian · 发表于 2024-5-12 03:33

好东西！！！

火炎焱燚 · 发表于 2024-5-14 18:37

这个好啊，谢谢了。

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GB/T 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法

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